GBT 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读写存储器空白详细规范

半导体器件集成电路第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范
Semiconductordevices-Integratedcircuits-Part2-10:Digitalintegratedcircuits-Blankdetailspecificationforintegratedcircuitdynamicread/writememories

摘要:IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

标准编号：GB/T17574.10-2003
标准类型：CP
发布单位：CN-GB
发布日期：2003年1月1日
强制性标准：否
实施日期：2004年1月1日
关键词：半导体器件,计算机存储设备,集成电路,semiconductordevices,computerstoragedevices,integratedcircuit,integratedcircuits

GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范.pdf

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