会议论文《抗辐射加固封装国产存储器电子辐照试验研究》针对国产存储器在辐射环境下的可靠性进行了深入分析。通过电子辐照试验，评估了不同封装技术对存储器抗辐射性能的影响，为提升国产电子器件在极端环境下的稳定性提供了重要数据支持。
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