会议论文《浮栅存储器的总剂量辐射效应研究进展》探讨了浮栅存储器在总剂量辐射环境下的性能变化及失效机制。文章综述了近年来相关研究的最新成果，分析了辐射对器件电荷存储、阈值电压和数据保持能力的影响。研究为提高浮栅存储器的抗辐射能力提供了理论依据和技术参考，对航天、核能等高辐射环境中的应用具有重要意义。
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