会议论文《嵌入式存储器诊断电路的失效位图压缩方法》针对嵌入式存储器诊断中的位图数据量大问题，提出了一种高效的压缩方法。该方法通过分析失效位图的特性，结合容错计算技术，实现对位图的有效压缩与解压。论文在第十三届全国容错计算学术会议上发表，为提高存储器诊断效率提供了新的思路和技术支持。
文档为pdf格式，0.79MB，总共7页。
举报
