会议论文《集成电路的辐射能力小子样评估技术》发表于第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会。该文针对集成电路在辐射环境下的性能评估问题，提出一种基于小子样的有效评估方法。通过实验与数据分析，验证了该技术在提高评估效率和准确性方面的优势，为集成电路抗辐射设计提供了重要参考。
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