会议论文《深亚微米集成电路ESD器件设计研究》探讨了在深亚微米技术下静电放电（ESD）保护器件的设计方法。文章分析了ESD器件在先进工艺中的性能要求，提出优化结构以提高保护能力并降低面积。研究对提升集成电路可靠性具有重要意义，为后续芯片设计提供了理论支持和技术参考。
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