会议论文《混合集成电路HALT和HASS技术应用初探》探讨了HALT（高强度加速寿命试验）和HASS（高加速应力筛选）技术在混合集成电路中的应用。文章分析了这两种技术对提高产品可靠性的有效性和实施方法，为混合集成电路的可靠性评估提供了新思路。
文档为pdf格式，0.45MB，总共9页。
举报
