会议论文《静态随机存储器抗总剂量辐射性能筛选在线测试系统》发表于第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会。该文介绍了针对静态随机存储器（SRAM）在高辐射环境下性能退化的在线测试系统，旨在实现对器件抗总剂量辐射能力的快速评估与筛选。研究提出了一种高效、可靠的测试方法，为航天及核工业等领域中关键电子器件的可靠性保障提供了技术支持。
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