会议论文《GaN薄膜的太赫兹光谱研究》在第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议上发表。该研究通过太赫兹光谱技术对GaN薄膜的物理特性进行了深入分析，探讨了其在太赫兹频段的响应特性与结构关系，为GaN基器件的性能优化提供了理论依据和技术支持。
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