利用侧向湿法腐蚀Al InN牺牲层技术构造GaN微腔 - 第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议.pdf

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2026-1-12 10:07 | 查看全部 阅读模式

会议论文《利用侧向湿法腐蚀Al InN牺牲层技术构造GaN微腔》介绍了通过侧向湿法腐蚀AlInN牺牲层,实现高精度GaN微腔结构的制备方法。该技术有效提高了微腔的尺寸控制和表面质量,为氮化镓基光电器件的发展提供了新思路。文章在第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议上发表,展示了该领域的最新研究成果。

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利用侧向湿法腐蚀Al InN牺牲层技术构造GaN微腔 - 第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议
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