会议论文《光谱椭圆偏振法表征太阳电池用微晶硅薄膜初探》探讨了利用光谱椭圆偏振技术对太阳电池中微晶硅薄膜的光学性质进行非破坏性检测。该方法能够准确获取薄膜的厚度、折射率等关键参数，为优化太阳能电池性能提供理论依据和技术支持。研究结果对于提高光伏材料的表征精度具有重要意义。
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