会议论文《二氧化硅高阻隔薄膜制备的质谱诊断及性能研究》发表于第十二届全国包装工程学术会议。该文通过质谱技术对二氧化硅高阻隔薄膜的制备过程进行实时监测，分析了薄膜成分与结构的关系，探讨了其在包装领域的应用潜力。研究为优化薄膜性能提供了理论依据和技术支持。
文档为pdf格式，0.22MB，总共10页。
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