SiO2_聚酰亚胺(PI)_SiO2_PI_SiO2复合绝缘薄膜性能研究 - 中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会.pdf

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2026-1-10 11:02 | 查看全部 阅读模式

会议论文《SiO2-聚酰亚胺(PI)-SiO2-PI-SiO2复合绝缘薄膜性能研究》探讨了多层复合绝缘薄膜的结构与性能关系。通过实验分析,研究发现该复合结构在介电性能、热稳定性和机械强度方面表现出优异特性,适用于高频电子器件和柔性电子领域。该成果为高性能绝缘材料的设计与应用提供了理论依据和技术支持。

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SiO2_聚酰亚胺(PI)_SiO2_PI_SiO2复合绝缘薄膜性能研究 - 中国电子学会真空电子学分会第十九届学术年会
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