会议论文《嵌入式软件覆盖测试的优化技术的研究》发表于中国电子学会第十七届信息论学术年会，探讨了嵌入式软件测试中的覆盖测试优化方法。文章提出了一系列提升测试效率和覆盖率的技术手段，旨在解决传统测试方法在资源受限环境下的不足。研究对嵌入式系统的测试流程进行了深入分析，并结合信息论原理提出了改进方案，具有较强的理论价值和实际应用意义。
文档为pdf格式，0.3MB，总共6页。
举报
