会议论文《日系标准中的高频噪声测试》发表于2010年中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会。该文探讨了日系标准中关于高频噪声的测试方法与要求，分析了其在电子设备可靠性评估中的重要性。文章结合实际案例，提出了针对高频噪声的有效测试策略，为相关领域的技术规范制定和产品设计提供了参考依据。
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