会议论文《总剂量电离辐照试验新技术》发表于2010年中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会。该文介绍了在总剂量电离辐照试验中采用的新技术，旨在提高测试效率和准确性。研究针对电子器件在辐射环境下的可靠性问题，提出改进的试验方法和设备配置，为相关领域的研究与应用提供了参考依据。
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