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基于加速性能退化试验的单片集成电路可靠性评估 - 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会.pdf

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2026-1-11 02:46 | 查看全部阅读模式

会议论文《基于加速性能退化试验的单片集成电路可靠性评估》探讨了如何通过加速性能退化试验来评估单片集成电路的可靠性。该研究针对集成电路在极端条件下的性能变化进行分析，提出了一种有效的可靠性评估方法，为提高电子产品的稳定性和寿命提供了理论支持和技术参考。

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基于加速性能退化试验的单片集成电路可靠性评估 - 2010中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会.pdf

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可靠性, 单片, 退化, 中国电子, 集成电路

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