会议论文《基于ILP寄存器分配算法的高层BIST综合》探讨了在集成电路设计中如何利用整数线性规划（ILP）优化寄存器分配，以提升测试生成效率。该文针对高层BIST综合问题，提出了一种高效的算法框架，有效减少了资源消耗并提高了测试覆盖率。研究为半导体集成电路的自测试技术提供了理论支持和实践指导，对提升芯片可靠性具有重要意义。
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