会议论文《圆柱形同轴腔高次模的冷测研究》探讨了圆柱形同轴腔在高次模式下的冷态测试方法。该研究对于提高微波器件性能和稳定性具有重要意义，为相关领域的理论分析与实际应用提供了参考依据。
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