会议论文《氮化镓结型器件的EBIC和CL研究》介绍了通过电子束诱导电流（EBIC）和阴极发光（CL）技术对氮化镓结型器件进行表征的方法。该研究有助于理解器件内部的载流子行为与缺陷分布，为提升器件性能提供理论依据。文章在第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议上发表，展示了相关领域的最新研究成果。
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