Schottky结构与p-i-n结构GaN紫外探测器的制作、测量和特性比较 - 第11届全国固体薄膜会议.pdf

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2026-1-12 08:05 | 查看全部 阅读模式

本文介绍了Schottky结构与p-i-n结构GaN紫外探测器的制作过程、测量方法及性能比较。通过对比两种结构的响应特性、暗电流和灵敏度,分析了其在紫外探测应用中的优缺点。研究结果表明,Schottky结构具有较低的暗电流和较高的响应速度,而p-i-n结构则表现出更好的光响应性能。该工作为GaN基紫外探测器的设计与优化提供了参考依据。

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Schottky结构与p-i-n结构GaN紫外探测器的制作、测量和特性比较 - 第11届全国固体薄膜会议
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