会议论文《U薄膜分析样制备技术研究》发表于第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会，主要探讨了铀薄膜样品的制备方法及其在核探测中的应用。文章详细介绍了薄膜制备的关键工艺，包括沉积技术、厚度控制及表面处理等，旨在提高分析精度和实验可靠性。该研究对核材料分析和相关检测技术的发展具有重要意义。
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