93k集成电路测试系统校准原理及实现方法研究 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会.pdf

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2026-1-12 07:14 | 查看全部 阅读模式

会议论文《93k集成电路测试系统校准原理及实现方法研究》探讨了集成电路测试系统中校准技术的关键问题。文章分析了校准原理,提出了有效的实现方法,旨在提高测试系统的精度与可靠性。该研究对于提升集成电路测试质量具有重要意义,为相关领域的技术发展提供了理论支持和实践参考。

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93k集成电路测试系统校准原理及实现方法研究 - 第一届中国微电子计量与测试技术研讨会
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