SOC混合信号测试难题的解决策略 - 第九届国际电子测试与测量专业研讨会暨2008质量认证与测试技术峰会.pdf

6 0

2026-1-12 08:04 | 查看全部阅读模式

会议论文《SOC混合信号测试难题的解决策略》发表于第九届国际电子测试与测量专业研讨会暨2008质量认证与测试技术峰会。该文针对系统级芯片（SOC）中混合信号测试中的关键技术问题进行了深入分析，提出了有效的测试策略和解决方案，旨在提高测试效率与准确性，为相关领域的工程实践提供了重要参考。

文档为pdf格式，0.23MB，总共5页。