会议论文《SOC的可测性设计与测试技术的发展与展望》探讨了系统级芯片（SoC）在可测性设计与测试技术方面的最新进展。文章分析了当前测试方法的局限性，并提出了未来发展方向，强调了提高测试效率和降低测试成本的重要性。该文为SoC测试技术的研究提供了理论支持和实践指导，对提升集成电路可靠性具有重要意义。
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