会议论文《PCF8563芯片的测试程序开发研究》发表于第五届中国测试学术会议，主要探讨了PCF8563芯片的测试方法与程序开发。该研究针对芯片的功能特性，设计了高效的测试流程，提升了测试效率与准确性。文章详细介绍了测试程序的实现过程，并对测试结果进行了分析，为相关芯片的测试提供了理论支持和实践参考。
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