会议论文《一种以应用为导向的非接触射频卡芯片的全新测试方法》发表于第五届中国测试学术会议。该文提出了一种针对非接触射频卡芯片的创新测试方法，旨在提高测试效率与准确性，满足实际应用需求。研究结合了射频识别技术的特点，设计了适用于多种应用场景的测试方案，为相关领域的技术发展提供了理论支持和实践参考。
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