会议论文《SEM及AFM校准放大倍率标样的研究》探讨了扫描电子显微镜（SEM）和原子力显微镜（AFM）在放大倍率校准中的关键问题。文章提出了一种高精度的标样设计与应用方法，以提高两种仪器在微观测量中的准确性和一致性。该研究对于提升纳米尺度测量的可靠性具有重要意义，并为相关领域的标准化工作提供了理论支持。
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