会议论文《一种基于ATE的低成本芯片验证方法》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会。该文提出了一种利用自动测试设备（ATE）进行芯片验证的新方法，旨在降低验证成本并提高效率。通过优化测试流程和算法，该方法在保证测试覆盖率的同时，减少了对昂贵测试设备的依赖，为芯片研发提供了经济可行的解决方案。
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