会议论文《SOC总线串扰的精简MT测试集》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了如何通过优化MT测试集来有效检测SOC总线中的串扰问题。该研究提出了一种精简方法，提高了测试效率并降低了资源消耗，对提升芯片测试性能具有重要意义。
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