会议论文《UNIMET4000混合集成电路测试系统校准方法研究》发表于2008年中国仪器仪表与测控技术报告大会。该文针对UNIMET4000测试系统的校准问题进行了深入探讨，提出了一套有效的校准方法，以提高测试精度和可靠性。研究内容涵盖系统校准原理、实现步骤及实际应用效果，对提升混合集成电路测试水平具有重要参考价值。
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