会议论文《TDR DIB design rules for testability and reliability》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了提高系统测试性和可靠性的设计规则。文章提出了一套基于TDR（时域反射计）和DIB（诊断接口总线）的技术方案，旨在优化电路设计，提升故障检测与诊断能力。该研究对增强电子系统的可测试性具有重要意义，为相关领域的工程实践提供了理论支持。
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