会议论文《雷击浪涌脉冲作用下典型集成电路损伤效应研究》探讨了雷击浪涌脉冲对集成电路的潜在损害机制。该研究通过实验分析不同强度脉冲对常见集成电路的影响，揭示了其失效模式与耐压特性。文章为提高电子设备的抗干扰能力和可靠性提供了理论依据和技术参考，对电力电子和通信领域具有重要指导意义。
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