本文针对双极运算放大器在辐射环境下的ELDRS效应，提出了一种变温加速辐照方法。通过改变温度条件，研究了不同温度下器件的辐射敏感性，提高了测试效率。该方法为评估电子器件在极端环境下的可靠性提供了新思路，具有重要的工程应用价值。
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