会议论文《反熔丝FPGA器件γ剂量率辐射效应规律探讨》针对反熔丝技术在FPGA中的应用，分析了不同γ射线剂量率对器件性能的影响。研究通过实验测试，揭示了辐射环境下器件的失效机制和阈值特性，为提升FPGA抗辐射能力提供了理论依据和技术支持。
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