会议论文《基于High-k介质钝化层对AlGaN_GaN HEMT击穿电压影响的仿真研究》探讨了High-k介质在AlGaN/GaN HEMT器件中的应用,分析其对器件击穿电压的影响。通过仿真方法,研究了不同High-k材料对器件性能的优化效果,为提升器件可靠性提供了理论依据。
文档为pdf格式,0.56MB,总共5页。
举报