会议论文《基于IDDT集成电路故障诊断小波函数选择》发表于2010年国际仪器仪表与测控技术大会。该文研究了在集成电路故障诊断中，如何根据IDDT（延迟差分测试）技术选择合适的小波函数，以提高故障检测的准确性与效率。通过分析不同小波函数对信号的分解能力，提出了适用于IDDT数据的优化选择方法，为集成电路测试提供了理论支持和技术参考。
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