宽频带RFID标签天线的设计与测试技术 - 2010’全国第十三届微波集成电路与移动通信学术会议.pdf

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2026-1-11 03:28 | 查看全部 阅读模式

会议论文《宽频带RFID标签天线的设计与测试技术》发表于2010’全国第十三届微波集成电路与移动通信学术会议。该文探讨了宽频带RFID标签天线的设计方法和测试技术,旨在提高标签在不同频率下的识别性能。通过优化天线结构和材料选择,实现了更宽的工作频带和稳定的信号传输。研究对RFID系统的应用具有重要意义,为后续相关技术发展提供了理论支持和实践参考。

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宽频带RFID标签天线的设计与测试技术 - 2010’全国第十三届微波集成电路与移动通信学术会议
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