会议论文《基于Agilent VEE的HEMT器件直流参数自动测试系统》发表于第五届中国测试学术会议，介绍了利用Agilent VEE平台构建的HEMT器件直流参数自动测试系统。该系统实现了测试流程的自动化，提高了测试效率与数据准确性，为半导体器件的性能评估提供了可靠手段。
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