会议论文《基于物方分辨力的结构光传感器参数优化设计》发表于第19届中国过程控制会议，探讨了如何通过优化结构光传感器的关键参数来提升物方分辨力。文章提出了一种参数优化方法，有效提高了传感器的测量精度与稳定性，对工业检测和过程控制领域具有重要参考价值。
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