会议论文《基于漏电流故障模型的集成电路测试方法研究》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会，探讨了集成电路中漏电流故障的检测方法。该研究通过建立精确的漏电流故障模型，提出了一种有效的测试策略，提高了集成电路测试的准确性和效率。论文对提升集成电路可靠性具有重要意义，为后续相关研究提供了理论支持和技术参考。
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