会议论文《石英晶体元件活性跳变的验证试验》发表于中国电子学会第十七届电子元件学术年会。该文针对石英晶体元件在特定条件下的活性跳变现象进行了实验验证，分析了其产生的原因及影响因素，提出了有效的检测方法。研究结果对提高石英晶体元件的稳定性和可靠性具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持。
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