晶体硅旧组件性能与衰减原因分析 - 第十一届中国光伏大会暨展览会.pdf

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2026-1-11 04:19 | 查看全部 阅读模式

会议论文《晶体硅旧组件性能与衰减原因分析》发表于第十一届中国光伏大会暨展览会,主要探讨了晶体硅太阳能电池组件在长期使用后的性能变化及衰减机制。文章通过实验分析,揭示了老化、湿热环境、紫外辐射等因素对组件效率的影响,为延长光伏组件使用寿命和提升可靠性提供了理论依据和技术参考。

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晶体硅旧组件性能与衰减原因分析 - 第十一届中国光伏大会暨展览会
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