会议论文《宇航级瓷介电容器极限寿命研究》发表于2010年中国电子学会可靠性分会第十五届可靠性学术年会。该文针对宇航级瓷介电容器的寿命问题进行了深入探讨，通过实验与数据分析，研究了其在极端环境下的性能变化及使用寿命。论文对提高航天电子设备的可靠性具有重要参考价值。
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