Managing ATE Maintenance to Reduce Device Testing Cost - 第五届中国测试学术会议.pdf

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2026-1-12 07:49 | 查看全部 阅读模式

会议论文《Managing ATE Maintenance to Reduce Device Testing Cost》发表于第五届中国测试学术会议,探讨了如何通过优化自动测试设备(ATE)的维护策略来降低器件测试成本。文章分析了ATE维护对测试效率和成本的影响,提出了一套有效的维护管理方法,旨在提高设备利用率并减少不必要的停机时间,具有重要的实际应用价值。

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Managing ATE Maintenance to Reduce Device Testing Cost - 第五届中国测试学术会议
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