会议论文《New Test Architecture of Flash Memory testing》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了闪存测试的新架构。该文提出了一种高效、可靠的测试方法，以应对日益复杂的闪存技术需求。研究旨在提高测试效率和准确性，降低测试成本，为闪存产品的质量保障提供技术支持。论文对当前测试方法进行了分析，并提出了创新性的解决方案，具有重要的理论和应用价值。
文档为pdf格式，0.7MB，总共4页。
举报
