会议论文《X箍缩背光照相 - 首届全国脉冲功率会议》介绍了利用X箍缩技术进行背光照相的实验方法。该研究在脉冲功率领域具有重要意义,为高密度等离子体诊断提供了新途径。论文详细描述了实验装置、测量原理及结果分析,展示了X箍缩在高能物理中的应用潜力。
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