会议论文《SRAM FPGA单粒子和总剂量辐射效应试验研究》探讨了SRAM型FPGA在辐射环境下的可靠性问题。文章通过实验分析了单粒子效应和总剂量效应对其性能的影响，为高辐射环境下FPGA的应用提供了理论依据和技术支持，具有重要的工程参考价值。
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