会议论文《ONO反熔丝FPGA抗龟离辐照性能研究》探讨了基于ONO反熔丝技术的FPGA在受到辐射影响时的可靠性表现。该研究针对辐射环境下可能出现的“龟裂”现象，分析了其对电路性能的影响，并提出了相应的改进措施。通过实验验证，论文展示了该技术在抗辐射方面的优势，为高可靠电子系统的设计提供了理论支持和技术参考。
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