Up to 110GHz毫米波单片集成电路的在片测试技术研究 - 第十六届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议.pdf

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2026-1-11 00:47 | 查看全部阅读模式

会议论文《Up to 110GHz毫米波单片集成电路的在片测试技术研究》探讨了高频毫米波集成电路的测试方法。该研究针对110GHz频段的单片集成电路，提出了一种高效的在片测试技术，解决了高频信号测试中的难题。通过优化测试结构和提高测试精度，为高性能毫米波器件的设计与应用提供了重要支持。

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